導熱硅膠片耐高溫老化性能測試方法：

目的：

老化，是指產品或者零部件受到光，溫度等不同條件的輻射或影響下所產生的外觀或者是產品性能的改變。

測試條件：溫度26℃，濕度42%RH下進行。

判斷尺度：

1、重量損失小于1%；

2、高溫后全部化學物理性能穩(wěn)定。

3、選取10個試樣，在35 ℃的干燥箱內放置80--100h；

4、將試樣放入200℃的烘箱內連續(xù)烘干200h；

5、取出試樣置放于35 ℃的干燥箱內80--100h；

6、分別準確稱量10個試樣的重量G1；

7、再次分別準確稱量10個試樣的重量G2；

8、盤算重量損失：(G1-G2)/G1×100%。

測試方法：

1、測試導熱硅膠片初始參數：導熱系數、硬度、抗拉強度、耐電壓、體積電阻、阻燃等級等；

2、快速溫度反復沖擊：將所測試導熱硅膠片在低溫-40℃時保持30分鐘，并快速將溫度上升到120℃并保持30分鐘，如此連續(xù)沖擊500個循環(huán)；

3、取出導熱硅膠片，在室溫環(huán)境下放置30分鐘，測試沖擊后導熱硅膠片的各參數：導熱系數、硬度、抗拉強度、耐電壓、體積電阻、阻燃等級等，與初始參數值作出量化對比與分析；

4、根據量化對比與分析，推斷出該導熱硅膠片的使用壽命年限。